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拉曼電鏡聯(lián)用光譜系統(tǒng) RTS-SEMR
產品簡介
掃描電子顯微鏡（SEM）是一種介于透射電子顯微鏡和光學顯微鏡之間的一種觀察手段。其利用聚焦的很窄的高能電子束來掃描樣品，實現(xiàn)對物質微觀形貌表征的目的。具有景深大、分辨率高，成像直觀、立體感強、放大倍數(shù)范圍寬以及待測樣品在三維空間內進行旋轉和傾斜等特點。拉曼技術在分子級別上提供樣品的化學結構、組分信息；而 SEM 可在納米尺度上提供高空間分辨率的形貌圖像；SEM 與拉曼光譜技術相結合，使用 SEM 觀察樣品形貌，并可獲取指*樣品點的拉曼光譜信息，同步獲取樣品材料表面形貌、分子結構與化學組分等信息。
典型應用
拉曼電鏡聯(lián)用光譜系統(tǒng) RTS-SEMR
北京卓立漢光儀器有限公司全新推出的 RTS- SEMR 拉曼電鏡光譜系統(tǒng)集成場發(fā)射掃描電鏡與拉曼光譜系統(tǒng)于一體，是一款真正意義上實現(xiàn)國產拉曼光譜與掃描電鏡聯(lián)用的設備。拉曼電鏡通過快速、精確、高性能的拉曼分析，彌補了能譜儀、波譜儀等傳統(tǒng)電鏡附件無法實現(xiàn)的分子結構與成分觀察。尤其是針對有機結構、碳結構、同分異構體、晶體與無機相等多領域材料的信息表征，擴展了傳統(tǒng)掃描電子顯微鏡的分析應用領域，例如礦物鑒別、高分子與制藥行業(yè)、鋰電行業(yè)、醫(yī)工交叉行業(yè)等，應用前景廣闊。
北京卓立漢光儀器有限公司推出的掃描電鏡-拉曼光譜聯(lián)用裝置采用“離軸"模式設計理念。“離軸"模式掃描電鏡的電子束與拉曼光譜的激光束不同軸,通過移動樣品臺分別進行掃描電鏡-能譜分析和顯微拉曼光譜分析，原位獲取樣品指*位置的形貌信息和化學成分信息。
系統(tǒng)架構
RTS- SEMR 拉曼電鏡光譜系統(tǒng)，電鏡擁有大視野及納米級分辨率，是一個優(yōu)秀的樣品微觀形貌分析平臺，系統(tǒng)耦合拉曼共聚焦光路進入真空樣品倉，實現(xiàn)了樣品在電子束和激光束之間的快速切換，在滿足樣品表征觀察的同時，也能夠實現(xiàn)納米級分辨率的化學成分和空間結構分析，充分發(fā)揮掃描電鏡與拉曼兩者的應用優(yōu)勢。
拉曼集成掃描電子顯微鏡采用平行雙束方案，搭載高精度復合位移臺可實現(xiàn)樣品在拉曼光軸和電子束光軸之間快速、精確、穩(wěn)定的切換，拉曼掃描范圍高達 2.5 mm。
獨*的系統(tǒng)及產品設計保證了操作性、易用性、普適性，用戶可在電鏡中尋找感興趣的材料特征，得到高分辨的掃描結果后，一鍵切換至拉曼光路下進行該區(qū)域的快速/高精度的光譜掃描，隨后得到高匹配程度的拉曼渲染聯(lián)用效果。
拉曼渲染結果的像素與光譜數(shù)據對應關系可通過軟件程序直接提取，提供進行便捷的結果解析。
拉曼光譜集成方案提供了多種配置供用戶選擇，例如激光波長、光譜儀焦長、光柵密度、物鏡等光學核心配置，充分滿足應用及市場的需求。
掃描式電子顯微鏡系統(tǒng)配置多種類型探測器，可實現(xiàn)二次電子和背散射電子同時成像，兼容多種應用模式，可覆蓋生命科學、材料科學、地質科學等多學科科研應用場景。
標配五軸高精度運動平臺及自主設計樣品載臺，可實現(xiàn)多個釘臺同時放樣或單一大尺寸樣品觀測。
性能優(yōu)勢
典型參數(shù)
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